منابع مشابه
Computational chemistry for molecular electronics
We present a synergetic effort of a group of theorists to characterize a molecular electronics device through a multiscale modeling approach. We combine electronic-structure calculations with molecular dynamics and Monte Carlo simulations to predict the structure of self-assembled molecular monolayers on a metal surface. We also develop a novel insight into molecular conductance, with a particu...
متن کاملAnalytical chemistry in molecular electronics.
This review discusses the analytical characterization of molecular electronic devices and structures relevant thereto. In particular, we outline the methods for probing molecular junctions, which contain an ensemble of molecules between two contacts. We discuss the analytical methods that aid in the fabrication and characterization of molecular junctions, beginning with the confirmation of the ...
متن کاملThe chemistry of solid-state electronics.
Since the original theoretical insights of Bardeen and Shockley about 40 years ago, the progress of solid-state electronics has been paced by the ability to control chemical bonding structures, particularly at surfaces and interfaces. The functioning of solid-state devices depends on being able to produce interfacial structures with a minimum number of defective chemical bonds. A series of chem...
متن کاملhazard evaluation of gas condensate stabilization and dehydration unit of parsian gas refinery using hazop procedures
شناسایی مخاطرات در واحد 400 پالایشگاه گاز پارسیان. در این پروزه با بکارگیری از تکنیک hazop به شناسا یی مخاطرات ، انحرافات ممکن و در صورت لزوم ارایه راهکارهای مناسب جهت افزایش ایمنی فرا یند پرداخته میگردد. شرایط عملیاتی مخاطره آمیز نظیر فشار و دمای بالا و وجود ترکیبات مختلف سمی و قابل انفجار در واحدهای پالایش گاز، ضرورت توجه به موارد ایمنی در این چنین واحدهایی را مشخص می سازد. مطالعه hazop یک ر...
ذخیره در منابع من
با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید
ژورنال
عنوان ژورنال: SHINKU
سال: 1985
ISSN: 0559-8516,1880-9413
DOI: 10.3131/jvsj.28.553